飞思卡尔强芯IC EMC实验室已于日前建成并投入使用。该实验室是中国*家IC级EMC实验室。为飞思卡尔及全球客户在汽车电子、工业控制及消费电子等市场的产品提供IEC（*电工委员会）标准的EMC及EFT（电快速瞬变脉冲群）测试。

该实验室提供如下测试服务：

辐射发射：

1. IEC61967-2: TEM小室法

该方法用于测量IC芯片的直接电磁辐射。

传导发射：

2、IEC61967-4: 1欧姆/150欧姆法

该方法用于测量IC芯片的传导发射，包括用1欧姆的探针测量IC芯片接地引脚的射频电流和用150欧姆的耦合网络测量IC芯片单个引脚的射频电压。

辐射抗扰度：

3 、IEC62132-2: TEM小室法

该方法用于测量IC芯片对辐射电磁干扰的抗扰度。

传导抗扰度：

4. IEC62132-3: BCI 方法

该方法用两个电屏蔽的磁场探头夹在IC芯片的连接线缆上。*个探头用于注入射频干扰信号，而第二个探头用于监测被注入线缆上的电流以限制注入射频干扰信号的功率。

5. IEC62132-4: DPI 方法

该方法是将射频干扰信号通过一个（直流）去偶部件注入到被测器件的引脚上。

电快速瞬变脉冲群（EFT）：

6、IEC61000-4-4: 脉冲群抗扰度测试

该方法用于测试被测设备对施加到电源、信号、控制和接地端口的电快速脉冲/脉冲群干扰或瞬态脉冲干扰的抗扰度。

7、Langer公司的E1开发系统

该系统用于快速准确地查找被测设备内由EFT干扰引发系统出现功能障碍的原因。

8、Langer公司的 IC测试系统

该方法利用Langer公司的测试设备，通过传导的方式将干扰脉冲注入到被测器件的引脚以评估IC芯片对突发脉冲干扰的抗扰度。

实验室概况：