我中心举办聚焦离子束FIB技术交流会
发布时间：
2009-05-19 17:34
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目前，集成电路设计流程中，芯片功能的测试验证已经成为了一个不可或缺的关键环节，而且日益发展成为半导体行业的一个新兴产业。为了给天津市各集成电路设计企业提供起首进的测试验证服务，天津市集成电路设计中心将搭建优质的测试验证服务平台纳入重要工作之一，并于2009年5月18日，天津市集成电路设计中心、天津市集成电路行业协会携手纳瑞科技（北京）有限公司联合举办了聚焦离子束FIB技术交流会，就FIB在芯片电路修改、截面分析等方面的应用做了深入的讲解和交流。本市从事集成电路设计的企业和高校人员参加了此次交流会。
会后天津市集成电路设计中心和瑞纳科技总经理就搭建天津市FIB测试平台合作事宜进行了磋商，并打成了合作意向，中心将整合类似瑞纳科技等公司的优势资源，为天津市集成电路设计企业提供更好的测试服务，并以群体优势降低测试成本。