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天津市集成电路设计中心、天津市集成电路行业协会、天津市IC设计技术培训中心与MentorGraphics公司联合举办可测试性设计(Design For Test)技术培训。
时 间： 2009年5月5日——5月6日(9:30am-5:00pm)
会议地点：天津市集成电路设计公共服务平台培训室（天津市高新产业园区海泰发展六道6号海泰绿色产业基地G座九层）
招生对象：各集成电路设计公司工程师、各高校有志于涉足IC产业的研究生、科研院所、企业及社会有志于集成电路设计的工程技术人员，约40人。
报名时间：即日起至2009年4月30日，名额有限，报满为止，周一至周五工作时间。
联 系 人：天津市高新产业园区海泰发展六道6号海泰绿色产业基地G座九层 王金龙、陈天翔
联系电话：022-85689008
收费标准：1000元/人
培训安排：
*天（上午）：
l DFT Basic Concepts
l Full Scan and ATPG Flow
l Configuring Scan Chains/Test Logic and Full Scan Flow
l Understanding ATPG Messaging
（下午）：
l Achieving High Test Coverage
l Testing for High Quality
l SCAN & ATPG Lab
第二天（上午）：
l Memory Test and BIST concept introduction
l BIST Insertion and Pattern Translation
l BIST Generation and Integrated with Boundary Scan
（下午）：
l MBIST Lab
适合的听众：
l 从事ASIC/SoC设计工程师；
l 希望了解可测性设计技术与应用的工程师。
需要的知识：
l 理解ASIC/SoC设计流程；
l 对ASIC/SoC设计、~与验证有一定的经验；
l 熟悉Verilog/VHDL语言。
上一个:
先进IC设计技术研讨会
下一个:
Laker版图设计工具技术培训二
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